MOS管是起開(kāi)關(guān)作用的元件,其工作原理其實(shí)非常簡(jiǎn)答, 同過(guò)工作原理,我們用PWM電路實(shí)現(xiàn)對(duì)MOS關(guān)開(kāi)關(guān)導(dǎo)通控制,下面我們?cè)敿?xì)介紹其工作過(guò)程。首選給帶來(lái)的是基本概念和其結(jié)構(gòu)圖。如下:
場(chǎng)效應(yīng)管(FET)分為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)和絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管MOS(Metal-Oxide-Semiconductor)管,即金屬-氧化物-半導(dǎo)體。下面以增強(qiáng)型NMOS為例,介紹MOS管的工作原理。
增強(qiáng)型NMOS的結(jié)構(gòu)圖如圖 18所示,在參雜濃度較低的P型硅襯底上,制作兩個(gè)高參雜濃度的N型溝槽。分別用鋁從兩個(gè)N型溝槽中引出兩個(gè)電極分別作為源極S和漏極D(此時(shí)的源極和漏極在結(jié)構(gòu)上沒(méi)有區(qū)別是可以互換的)。然后在半導(dǎo)體的表面覆蓋一層很薄的SiO2絕緣層。在漏源極間的絕緣層上再裝上一個(gè)鋁電極;作為柵極G。另外在襯底上也引出一個(gè)電極B。
圖 18
在出廠前大多數(shù)MOS管的襯底已經(jīng)和源極連在了一起,此時(shí)源極S和漏極D就有了區(qū)別,不能再互換了。
在UGS=0時(shí),無(wú)論UDS的大小和極性,都會(huì)使得2個(gè)GS和DG這兩個(gè)PN結(jié)中一個(gè)正偏,另一個(gè)反偏。但是由于兩個(gè)N區(qū)之間被P襯底隔離,所以沒(méi)有辦法形成電流,情況如圖 19所示。
圖 19
當(dāng)在柵源極之間加上正向電壓(所謂的正向電壓永遠(yuǎn)是指電場(chǎng)方向是從P區(qū)指向N區(qū))后,則在柵極和襯底之間的SiO2絕緣層中便產(chǎn)生一個(gè)垂直于半導(dǎo)體表面的由柵極指向襯底的電場(chǎng),這個(gè)電場(chǎng)能排斥空穴而吸引電子,因而使柵極附近的P型襯底中的空穴被排斥,剩下不能移動(dòng)的受主離子(負(fù)離子),形成耗盡層,同時(shí)P襯底中的少子電子被吸引到襯底表面。當(dāng)UGS增加大一定大小時(shí),隨著SiO2絕緣層中電場(chǎng)的增強(qiáng),會(huì)將更多的電子吸引到P襯底的表面,于是柵極附近會(huì)形成一個(gè)N型薄層,且與兩個(gè)N區(qū)聯(lián)通。此時(shí)就形成了導(dǎo)電溝道,于是在DS之間就有電流可以通過(guò)了,其情況如圖 20所示。
圖 20
在這個(gè)階段,如果UDS保持不變,UGS增加會(huì)導(dǎo)致導(dǎo)電溝道變厚,從而ID變大。
(預(yù)夾斷的形成是在理解初期的一個(gè)難點(diǎn),這里的描述是參考了一些文獻(xiàn)之后自己的理解,正確性還需要考證)
當(dāng)UGS>UGSTH時(shí),導(dǎo)電溝道形成,與S和D極連在一起形成了一個(gè)大的N型半導(dǎo)體。所以當(dāng)在DS間加上正電壓之后,電流可以在N型半導(dǎo)體中流動(dòng)。
設(shè)想U(xiǎn)DS=0時(shí),ID=0,SiO2絕緣層與導(dǎo)電溝道之間的電場(chǎng)是均勻分布的,即從D到S的導(dǎo)電溝道一樣厚。但是導(dǎo)電溝道作為導(dǎo)體的一部分,一定是有電阻的。隨著UDS的增加,ID的增大,靠近S端的電勢(shì)會(huì)比靠近N處的電勢(shì)要低。這里很重要的一點(diǎn)是在這個(gè)過(guò)程中SiO2平面上各個(gè)點(diǎn)的電勢(shì)是均勻的,所以在導(dǎo)電溝道不同點(diǎn)與SiO2之間的電場(chǎng)強(qiáng)度是不一樣的。
如果以S端的電勢(shì)為0的話(huà),隨著ID的不斷增大,D點(diǎn)的電勢(shì)會(huì)達(dá)到UGS-UGSTH。此時(shí)UG與UD之間的電勢(shì)差為UGSTH,此時(shí)靠近D點(diǎn)處的電勢(shì)差恰好達(dá)到可以產(chǎn)生導(dǎo)電溝道的情況,于是在D極處就開(kāi)始出現(xiàn)如圖 21所示的預(yù)夾斷。
圖 21
隨著ID的繼續(xù)增大,預(yù)夾斷的點(diǎn)會(huì)不斷往左移動(dòng),如圖 22所示。但是無(wú)論如何移動(dòng),預(yù)夾斷點(diǎn)與G之間的電壓差保持為|UGSTH|。
圖 22
另外非常重要的一點(diǎn)是,在預(yù)夾斷的區(qū)域內(nèi),縱向的電勢(shì)差不足以出現(xiàn)導(dǎo)電溝道,但是由于DS間的電勢(shì)差都落在了這段預(yù)夾斷區(qū)域內(nèi)(即D極至夾斷點(diǎn)區(qū)域內(nèi),且方向是從D極橫向指向夾斷點(diǎn)),于是夾斷區(qū)內(nèi)有很強(qiáng)的橫向電場(chǎng)。于是當(dāng)載流子到達(dá)夾斷區(qū)邊沿時(shí),會(huì)被電場(chǎng)拉出,從D極輸出。所以預(yù)夾斷并不是不能導(dǎo)電,反而可以很好地完成導(dǎo)電。
有了以上認(rèn)識(shí)就可以解釋為什么在預(yù)夾斷過(guò)程中UDS繼續(xù)增大,ID的值可以保持不變。在進(jìn)入預(yù)夾斷之后,UDS繼續(xù)增大的過(guò)程中,夾斷點(diǎn)不斷向S極移動(dòng),但是保持了夾斷點(diǎn)和S極之間的電壓保持不變(數(shù)值上等于|UGSTH|)。即增加的UDS的電壓全部落在了夾斷區(qū)內(nèi)。(這里有一點(diǎn)沒(méi)法從原理上解釋?zhuān)强梢詮慕Y(jié)果反推,就是雖然導(dǎo)電溝道的長(zhǎng)度在縮短,但是電阻值沒(méi)有什么變化)于是ID的值保持不變。
當(dāng)反向電壓達(dá)到一定程度的時(shí)候就出現(xiàn)了反向擊穿,場(chǎng)效應(yīng)管就壞了。
圖 23
圖 24
圖 23和圖 24的左側(cè)為漏極輸出特性曲線(xiàn),右側(cè)為轉(zhuǎn)移特性曲線(xiàn)。
特性曲線(xiàn)中在VGS=-4V的曲線(xiàn)下方可以成為截止區(qū),該區(qū)域的情況是VGS還沒(méi)有到達(dá)導(dǎo)電溝道導(dǎo)通電壓,整個(gè)MOS管還沒(méi)有開(kāi)始導(dǎo)電。
可變電阻區(qū)又稱(chēng)為放大區(qū),在VDS一定的的情況下ID的大小直接受到VGS的控制,且基本為線(xiàn)性關(guān)系。注意三極管中的放大區(qū)和MOS管的放大區(qū)有很大區(qū)別,不能覺(jué)得是相似的。
恒流區(qū)又稱(chēng)為飽和區(qū),此時(shí)ID大小只收到VGS的控制,VDS變化過(guò)程中ID的大小不變。
場(chǎng)效應(yīng)管的分類(lèi)列表如下:
圖 25
圖 26
本文中詳細(xì)介紹的是絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管,如圖 26右側(cè)圖所示。而左側(cè)這種結(jié)構(gòu)稱(chēng)為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管,其工作原理大致如下:
在UGS沒(méi)有電壓的情況下,在兩個(gè)P區(qū)之間形成N區(qū)通道,連接著D極和S極。當(dāng)UDS有電壓時(shí)在N型半導(dǎo)體內(nèi)形成電流。當(dāng)G、S間加上反向電壓UGS后(所謂反向電壓是指從N區(qū)指向P區(qū)的電壓),在電場(chǎng)力作用下N區(qū)通道逐漸變窄,直至消失,從而ID減為0。其特性曲線(xiàn)如圖 27所示。
圖 27
圖 28
本文中詳細(xì)介紹的是增強(qiáng)型絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管,耗盡型絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管在SiO2絕緣層中摻雜了大量的金屬正離子,所以在UGS沒(méi)有電壓的情況下這些正離子感應(yīng)出反型層,形成導(dǎo)電溝道;于是UGS的作用就是抑制導(dǎo)電溝道。
就是中間的半導(dǎo)體類(lèi)型是P還是N。
只有一根垂直線(xiàn)的為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管;兩個(gè)線(xiàn)的為絕緣柵型晶體管。
第二根線(xiàn)為虛線(xiàn),為增強(qiáng)型絕緣柵型晶體管;為實(shí)線(xiàn)的為耗盡型晶體管。
箭頭永遠(yuǎn)從P指向N,而且永遠(yuǎn)是從G(漏)極輸出。結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管和絕緣柵型晶體管箭頭作用看起來(lái)有點(diǎn)反的原因是G極的位置不同了。