大約50年前，英特爾創(chuàng)造了世界上第一個商業(yè)生產(chǎn)的微處理器，一個普通的4位CPU（中央處理器），2300個晶體管，使用10μm工藝技術(shù)在硅中制造，只能進行簡單的算術(shù)計算。自這項突破性的成就以來，技術(shù)不斷發(fā)展，越來越復(fù)雜，目前最先進的64位硅微處理器已經(jīng)擁有300億個晶體管（例如，AWS Graviton2微處理器，使用7納米工藝技術(shù)制造）。

微處理器現(xiàn)在已經(jīng)深入到我們的文化中，已經(jīng)成為一項元發(fā)明——也就是說，它是一種可以讓其他發(fā)明得以實現(xiàn)的工具，最近的一項發(fā)明使COVID-19疫苗在創(chuàng)紀錄的時間內(nèi)開發(fā)所需的大數(shù)據(jù)分析成為可能。

本文報道了一種32位Arm架構(gòu)的微處理器，采用金屬氧化物薄膜晶體管技術(shù)在柔性襯底（PlasticARM）上開發(fā)。與主流半導(dǎo)體行業(yè)不同，柔性電子產(chǎn)品通過超薄的外形、整合性、極低的成本和大規(guī)模生產(chǎn)的潛力，與日常用品無縫集成。PlasticARM是將數(shù)十億個低成本超薄微處理器嵌入日常用品的先驅(qū)。

與傳統(tǒng)半導(dǎo)體器件不同，柔性電子器件建立在諸如紙張、塑料或金屬箔等基底上，并使用有機或金屬氧化物或非晶硅等活性薄膜半導(dǎo)體材料。與晶體硅相比，它們有許多優(yōu)點，包括薄、一致性和低制造成本。在柔性襯底上制備薄膜晶體管（TFTs）比在晶硅薄片上制備金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管（mosfet）的加工成本低得多。

TFT技術(shù)的目的不是要取代硅。隨著這兩種技術(shù)的不斷發(fā)展，硅很可能在性能、密度和功率效率方面保持優(yōu)勢。然而，TFTs使電子產(chǎn)品具有新穎的外形因素和硅無法達到的成本點，從而極大地擴大了潛在應(yīng)用的范圍。

微處理器是每一個電子設(shè)備的核心，包括智能手機、平板電腦、筆記本電腦、路由器、服務(wù)器、汽車，以及最近組成物聯(lián)網(wǎng)的智能物品。雖然傳統(tǒng)的芯片技術(shù)已經(jīng)在地球上的每一個“智能”設(shè)備中嵌入了至少一個微處理器，但它面臨著讓日常物品更智能的關(guān)鍵挑戰(zhàn)，比如瓶子、食品包裝、服裝、可穿戴貼片、繃帶等等。成本是阻礙傳統(tǒng)硅技術(shù)在這些日常用品中可行的最重要因素。雖然芯片制造的規(guī)模經(jīng)濟有助于大幅降低單位成本，但微處理器的單位成本仍然高得令人望而卻步。此外，硅芯片并不是天然的薄、柔韌性和一致性，而這些都是這些日常用品中嵌入電子產(chǎn)品的非常理想的特性。

另一方面，柔性電子產(chǎn)品確實提供了這些令人滿意的特性。在過去的20年里，柔性電子產(chǎn)品已經(jīng)發(fā)展到提供成熟的低成本、薄的、柔性和兼容的設(shè)備，包括傳感器、存儲器、電池、發(fā)光二極管、能量采集器、近場通信/射頻識別和打印電路，如天線。這些是構(gòu)建任何智能集成電子設(shè)備的基本電子元件。缺失的部分是柔性微處理器，目前還不存在可行的柔性微處理器的主要原因是，為了執(zhí)行有意義的計算，需要將相對大量的TFT集成在柔性襯底上，這在以前的TFT技術(shù)中是不可能的。在這種技術(shù)中，在進行大規(guī)模集成之前需要一定程度的技術(shù)成熟度。

中間方法是將基于硅的微處理器芯片集成到柔性襯底上，也稱為混合集成，其中硅片變薄，芯片集成到柔性襯底上。雖然薄硅芯片集成提供了一個短期的解決方案，但該方法仍然依賴于傳統(tǒng)的高成本制造過程。因此，要在未來10年乃至更長的時間內(nèi)生產(chǎn)數(shù)十億日常智能物品，這不是一個可行的長期解決方案。 我們的方法是利用柔性電子制造技術(shù)開發(fā)微處理器，也稱為柔性加工引擎。我們用柔性電子技術(shù)在聚酰亞胺基板上構(gòu)建本機柔性微處理器。金屬氧化物薄膜晶體管成本低，而且可以縮小到大規(guī)模集成所需的較小幾何尺寸。 早期的原生靈活處理器工作是基于使用低溫多晶硅TFT技術(shù)開發(fā)8位CPU，這具有較高的制造成本和較差的橫向可伸縮性。最近，二維材料晶體管被用于開發(fā)處理器，如使用二硫化鉬（MoS 2）晶體管的1位CPU 13和使用互補碳納米管晶體管構(gòu)建的16位RISC-V CPU。然而，這兩項工作都是在傳統(tǒng)的硅片而不是柔性襯底上進行的。

第一次嘗試構(gòu)建基于金屬氧化物TFT的處理元件是一個8位算術(shù)邏輯單元，它是CPU的一部分，與在聚酰亞胺上制造的打印可編程ROM相結(jié)合。最近，Ozer等人在金屬氧化物TFTs中提出了天生靈活的專用機器學習硬件。盡管機器學習硬件擁有最復(fù)雜的柔性集成電路（FlexIC），它由1400個門的金屬氧化物TFT組成，但FlexIC不是一個微處理器?？删幊烫幚砥鞣椒ū葯C器學習硬件更通用，并支持豐富的指令集，可用于對從控制代碼到數(shù)據(jù)密集型應(yīng)用程序（包括機器學習算法）的各種應(yīng)用程序進行編程。

原生柔性微處理器有三個主要部件：（1）32位CPU，（2）包含CPU和CPU外設(shè)的32位處理器，（3）包含處理器、存儲器和總線接口的片上系統(tǒng)（SoC），所有這些部件都是用金屬氧化物TFT在柔性基板上制造的。本機靈活的32位處理器源自支持Armv6-M架構(gòu)的Arm Cortex-M0+處理器（一組80多條指令）和現(xiàn)有的軟件開發(fā)工具鏈（例如，編譯器、調(diào)試器、連接器、集成開發(fā)環(huán)境等）。整個靈活的SoC被稱為PlasticARM，能夠從其內(nèi)部內(nèi)存運行程序。PlasticARM包含18334個NAND2等效柵極，這使其成為迄今為止在柔性基片上使用金屬氧化物tft制造的最復(fù)雜的FlexIC（至少比以前的集成電路復(fù)雜12倍）。

PlasticARM系統(tǒng)架構(gòu)

PlasticARM的芯片架構(gòu)如下圖所示。它是一種SoC，包括源自32位Arm Cortex-M0+處理器產(chǎn)品的32位處理器、存儲器、系統(tǒng)互連結(jié)構(gòu)和接口塊以及外部總線接口。

PlasticARM架構(gòu)和特性

a,SoC架構(gòu)，顯示了內(nèi)部結(jié)構(gòu)、處理器和系統(tǒng)外設(shè)。處理器包含一個32位的Arm Cortex-M CPU和一個嵌套向量中斷控制器(NVIC)，并通過互連結(jié)構(gòu)(AHB-LITE)連接到它的內(nèi)存。最后，外部總線接口提供了通用輸入輸出(GPIO)接口，用于芯片外與測試框架通信。

b，與Arm Cortex-M0+CPU相比，PlasticARM使用的CPU的特點。這兩個cpu都完全支持Armv6-M架構(gòu)，32位地址和數(shù)據(jù)能力，以及來自整個16位Thumb和32位Thumb指令集架構(gòu)的一個子集的86條指令。CPU微架構(gòu)具有兩級流水線。寄存器在Cortex-M0+的CPU中，但在PlasticARM中，寄存器被移動到SoC中的基于鎖存的RAM中，以節(jié)省Cortex-M的CPU區(qū)域。最后，兩個CPU之間以及與同一體系結(jié)構(gòu)家族中的其他CPU之間都是二進制兼容的。

c，PlasticARM的模具布局，，表示Cortex-M處理器、ROM和RAM等白框中的關(guān)鍵塊。

d，PlasticARM的模具顯微圖，顯示模具和核心區(qū)域的尺寸。

該處理器完全支持Armv6-M指令集架構(gòu)，這意味著為Cortex-M0+處理器生成的代碼也將在其派生的處理器上運行。處理器包括CPU和一個與CPU緊密耦合的嵌套向量中斷控制器(NVIC)，處理來自外部設(shè)備的中斷。 SoC的其余部分包括存儲器（ROM/RAM）、AHB-LITE互連結(jié)構(gòu)（高級高性能總線（AHB）規(guī)范的一個子集）和將存儲器連接到處理器的接口邏輯，以及用于控制兩個通用輸入輸出（GPIO）引腳進行片外通信的外部總線接口。ROM包含456字節(jié)的系統(tǒng)代碼和測試程序，并已實現(xiàn)為組合邏輯。128字節(jié)的RAM已經(jīng)實現(xiàn)為一個基于鎖存的寄存器文件，主要用作堆棧。

上圖b顯示了PlasticARM中使用的Cortex-M與Arm Cortex-M0+的比較。雖然PlasticARM中的Cortex-M處理器不是一個標準產(chǎn)品，但它實現(xiàn)了支持16位Thumb和32位Thumb指令集架構(gòu)的一個子集的Armv6-M架構(gòu)，因此它與同一架構(gòu)家族中的所有Cortex-M類處理器(包括Cortex-M0+)都是二進制兼容的。

PlasticARM中的Cortex-M和Cortex-M0+之間的關(guān)鍵區(qū)別在于，我們將SoC中RAM的特定部分分配給CPU寄存器（約64字節(jié)），并將它們從CPU移動到PlasticARM中Cortex-M中的RAM，而Cortex-M0+中的寄存器仍保留在其CPU中。通過消除CPU中的寄存器，并使用現(xiàn)有RAM作為寄存器空間，以較慢的寄存器訪問為代價，實現(xiàn)了CPU面積的大幅縮減（約3倍）。

結(jié)果

PlasticARM采用PragmatIC的0.8μm工藝，采用工業(yè)標準芯片實現(xiàn)工具。為了實現(xiàn)PlasticARM FlexIC，我們開發(fā)了工藝設(shè)計工具包、標準單元庫和器件/電路模擬。上圖c顯示了FlexIC布局，其中劃分了Cortex-M處理器、RAM和ROM。實現(xiàn)方法的細節(jié)可以在Methods中找到。 PlasticARM是使用商業(yè)的“fab-in-a-box”生產(chǎn)線FlexLogIC制作的，其芯片顯微照片如上圖d所示。該工藝使用基于IGZO的n型金屬氧化物TFT技術(shù)，并在直徑為200 mm的聚酰亞胺晶圓上生成FlexIC設(shè)計。IGZO TFT電路是使用傳統(tǒng)的半導(dǎo)體加工設(shè)備制成的，該設(shè)備適用于在厚度小于30μm的柔性(聚酰亞胺)襯底上生產(chǎn)器件。其通道長度為0.8μm，最小供電電壓為3v。

n型金屬氧化物薄膜技術(shù)的設(shè)計面臨著許多相同的挑戰(zhàn)，這些挑戰(zhàn)影響了20世紀70年代和80年代初第一代硅（負溝道金屬氧化物半導(dǎo)體，NMOS）技術(shù)的復(fù)雜性和產(chǎn)量，特別是低噪聲容限、高功耗和大的工藝變化。制造方法的細節(jié)可以在“方法”中找到。 我們報道了一種功能齊全的彈性塑料臂這已經(jīng)通過在制造之前運行預(yù)編程（硬連線）到ROM中的三個測試程序來證明。盡管測試程序是從ROM執(zhí)行的，但這不是系統(tǒng)的要求；它簡化了PlasticARM的測試設(shè)置。當前的ROM實現(xiàn)不允許在制造之后改變或更新程序代碼，盡管這在將來的實現(xiàn)中是可能的（例如，通過可編程ROM）。 測試程序的編寫方式使得指令執(zhí)行CPU內(nèi)部的所有功能單元，如算術(shù)邏輯單元、加載/存儲單元和分支單元，并使用設(shè)置為“cortex-m0plus”的CPU標志，使用armcc編譯器進行編譯。測試程序的流程圖和詳細描述如圖2所示。當每個測試程序完成其執(zhí)行時，測試程序的結(jié)果通過輸出GPIO pin-off芯片傳輸?shù)綔y試框架。

測試程序

a,一個簡單的累加程序從ROM中讀取值并將它們相加。如果總和與預(yù)期值匹配，則會向測試儀讀取的GPIO輸出引腳發(fā)送確認信號。該測試使用加載、添加、比較和分支指令。

b，一組32位整數(shù)值被即時寫入RAM并在檢查讀取值與預(yù)期值的同時將它們讀回。如果所有寫入的值都被正確讀取，則會向GPIO輸出引腳發(fā)送確認信號。該測試使用加載、存儲、添加、移位、邏輯、比較和分支指令。

c,從測試儀通過GPIO輸入引腳連續(xù)讀取一個值。該值被一個常量值屏蔽。如果屏蔽結(jié)果為1，則計數(shù)器遞增。如果為0，則計數(shù)器復(fù)位。如果計數(shù)器值等于預(yù)期值，則會向GPIO輸出引腳發(fā)送確認信號。該測試使用加載、存儲、添加、邏輯、比較和分支指令。斜體字表示測試程序中的變量；粗體和大寫的術(shù)語是引腳和存儲。

眾所周知，IGZO TFT可以彎曲到3毫米的曲率半徑而不會損壞，PragmatIC還通過將其自己的電路反復(fù)彎曲到這個曲率半徑來驗證這一點。然而，所有PlasticARM測量都是在柔性晶圓保留在其玻璃載體上的情況下進行的，使用位于Arm Ltd的標準晶圓測試設(shè)備，在室溫下進行。PlasticARM的測量結(jié)果與其模擬結(jié)果進行了驗證。測量設(shè)置、結(jié)果及其對模擬的驗證的詳細信息可以在方法中找到。 表1顯示了PlasticARM的實現(xiàn)和測量的電路特性，并與以前使用金屬氧化物TFTs構(gòu)建的最佳天然柔性集成電路進行了比較。PlasticARM的面積為59.2 mm 2（無焊盤），并包含56340個器件（n型TFT加電阻）或18334個NAND2等效門，至少比之前最好的集成電路（即二進制神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BNN)FlexIC）高出12倍。微處理器的時鐘頻率最高可達29 kHz，功耗僅為21 mW，主要是(>99%)靜態(tài)功耗，其中處理器占45%，存儲器占33%，外設(shè)占22%。SoC使用28個引腳，包括時鐘、復(fù)位、GPIO、電源和其他調(diào)試引腳。此設(shè)計中沒有使用專門的靜電放電緩解技術(shù)。相反，所有輸入都包含140pF電容器，而所有輸出都由帶有有源上拉晶體管的輸出驅(qū)動器驅(qū)動。

表1：用金屬氧化物TFT構(gòu)建的柔性集成電路的優(yōu)點 任何電阻負載技術(shù)的一個關(guān)鍵挑戰(zhàn)是功耗。我們預(yù)計正在開發(fā)的低功耗單元庫將支持更高的復(fù)雜性，高達約100000個門。遷移到超過1000000個門可能需要互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)技術(shù)。

結(jié)論

我們報道了一種柔性32位微處理器PlasticARM，采用0.8μm金屬氧化物TFT技術(shù)制作。我們已經(jīng)演示了一個SoC的功能，它有一個32位Arm處理器制作在一個靈活的襯底上。它可以利用現(xiàn)有的軟件/工具支持(比如編譯器)，因為它與Armv6-M架構(gòu)中的Arm Cortex-M類處理器兼容，所以不需要開發(fā)軟件工具鏈。最后，據(jù)我們所知，它是目前為止用金屬氧化物tft制作的最復(fù)雜的柔性集成電路，包含超過18000個柵極，至少比以前最好的集成電路高12倍。 我們設(shè)想，PlasticARM將率先開發(fā)低成本、完全靈活的智能集成系統(tǒng)，使“萬物互聯(lián)”成為可能，包括在未來10年將超過一萬億無生命物體集成到數(shù)字世界中。為日常用品提供超薄、兼容、低成本、天生靈活的微處理器將帶來創(chuàng)新，從而帶來各種研究和商業(yè)機會。

方法

執(zhí)行

為了充分利用現(xiàn)代集成電路設(shè)計流程提供的高度自動化、快速周轉(zhuǎn)實現(xiàn)和驗證，我們開發(fā)了一個小型標準單元庫。標準單元庫是一些小的預(yù)先驗證構(gòu)建塊的集合，使用復(fù)雜的電子設(shè)計自動化工具，如合成、放置和布線，可以快速而輕松地構(gòu)建更大更復(fù)雜的設(shè)計。 在開始實施標準單元庫之前，先進行了一些初步調(diào)查，以便在目標技術(shù)的限制下確定最適合該庫的標準單元架構(gòu)。單元架構(gòu)是庫中每個單元共有的一組特征，例如單元高度、電源帶尺寸、布線網(wǎng)格等，它們允許單元以標準方式咬合在一起以形成更大的結(jié)構(gòu)。這些共同特征主要受制造過程的設(shè)計規(guī)則支配，但也受最終設(shè)計的性能和面積要求的影響。

一旦建立了單元架構(gòu)，下一步就是確定單元庫的內(nèi)容，不僅要考慮各種邏輯功能，還要確定每個邏輯功能的驅(qū)動強度變體的數(shù)量。由于設(shè)計、實施和表征每個標準單元所涉及的工作量很大，因此決定使用小型原型庫進行一些試驗，然后根據(jù)需要擴展庫。為了評估這個小型原型標準單元庫的性能，實施、制造和測試了一些簡單的代表性電路（例如環(huán)形振蕩器、計數(shù)器和移位陣列）。 我們從1.0-μm設(shè)計規(guī)則遷移到新的FlexIC 0.8-μm設(shè)計規(guī)則以減少面積，從而提高產(chǎn)量。由于這意味著用更小的晶體管重新繪制庫中的每個單元，我們也借此機會更改了標準單元架構(gòu)，以包括MT1（金屬跟蹤1）引腳，以便路由器更容易連接單元。電阻材料的改進（更高的薄層電阻，R s）也使電阻器的尺寸減小了3倍。 晶體管和電阻器尺寸的顯著減小使大多數(shù)單元的面積減少了約50%（參見擴展數(shù)據(jù)圖1），這反過來又通過降低設(shè)計的整體尺寸提高了制造良率。但是，由于仍然存在制造良率問題，我們可以通過更改標準單元架構(gòu)來進一步緩解這些問題，因此再次重新繪制了該庫。這一次，我們專注于可以提高最終設(shè)計整體良率的事情，例如包含冗余過孔和觸點、減少源極-漏極多邊形中的頂點數(shù)量（如果可能）以及將堆疊晶體管的尺寸保持在最低限度。此外，我們恢復(fù)到較低的薄層電阻以改善工藝擴展，但我們能夠通過使用更窄的電阻器來保持面積節(jié)省。為了提高邏輯綜合的整體質(zhì)量，庫中添加了許多復(fù)雜的AND-OR-INVERT和OR-AND-INVERT邏輯門以及一些高驅(qū)動強度的簡單邏輯門，例如NAND2_X2和NOR2_X2。

FlexLogIC工藝是NMOS工藝，因此依賴電阻負載將單元輸出拉向電源以驅(qū)動邏輯1。因此，單元輸出上升時間比下降時間慢得多，而且這種不對稱性會影響性能，尤其是對于重載網(wǎng)絡(luò)。為了改善關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)（例如時鐘）的時序，我們添加了帶有有源晶體管上拉的緩沖器。雖然這些有源上拉增加了少量的面積，但它們確實具有降低靜態(tài)功耗的額外好處。具有上拉電阻和有源晶體管上拉的緩沖器的布局和模擬傳輸特性如圖2所示。 這個簡單的標準單元庫隨后被成功用作目標技術(shù)，使用基于行業(yè)標準電子設(shè)計自動化工具的典型集成電路設(shè)計流程來實現(xiàn)PlasticARM SoC。擴展數(shù)據(jù)表1顯示了標準單元庫內(nèi)容和單元使用信息。 由于我們還沒有專用的靜態(tài)隨機存取存儲器FlexIC，我們通過將一些修改過的標準單元小心地放置在一個平鋪的陣列中，通過鄰接連接形成一個32×32位的存儲器（這個塊可以在圖1c中的芯片布局）。 FlexLogIC技術(shù)(見擴展數(shù)據(jù)表2)有四個可路由的金屬層，其中只有較低的兩層在標準單元內(nèi)使用。這使得最上面的兩層金屬層可以用于標準電池之間的互連，然后可以在相鄰電池的頂部進行路由，從而大大提高了總體柵極密度，約為每平方毫米300個柵極。

制造

擴展數(shù)據(jù)表2中總結(jié)了工藝參數(shù)和TFT參數(shù)的統(tǒng)計變化.FlexLogIC是一種專有的200毫米晶圓半導(dǎo)體制造工藝，可創(chuàng)建金屬氧化物薄膜晶體管和電阻器的圖案層，根據(jù)FlexIC設(shè)計將四個可布線（無金）金屬層沉積在柔性聚酰亞胺基板上。FlexIC設(shè)計的重復(fù)實例是通過運行多個薄膜材料沉積、圖案化和蝕刻序列來實現(xiàn)的。為了便于操作并允許使用行業(yè)標準工藝工具并實現(xiàn)亞微米圖案化特征（低至0.8μm），柔性聚酰亞胺基板在生產(chǎn)開始時旋涂到玻璃上。該工藝已經(jīng)過優(yōu)化，以確保在20毫米的橫向距離內(nèi)厚度變化基本上小于3%。薄膜材料沉積是通過物理氣相沉積、原子層沉積和溶液處理（例如旋涂）的組合實現(xiàn)的?；逄幚項l件已經(jīng)過精心優(yōu)化，以最大限度地減少薄膜應(yīng)力和基板彎曲。使用光刻5倍步進器工具實現(xiàn)特征圖案化，該工具對在200毫米直徑晶圓上的多個實例重復(fù)的鏡頭進行成像。

每個鏡頭都是單獨聚焦的，這進一步補償了旋鑄薄膜內(nèi)的任何厚度變化。技術(shù)測量是使用過程控制監(jiān)控結(jié)構(gòu)進行的。使用光刻5倍步進器工具實現(xiàn)特征圖案化，該工具對在200毫米直徑晶圓上的多個實例重復(fù)的鏡頭進行成像。每個鏡頭都是單獨聚焦的，這進一步補償了旋鑄薄膜內(nèi)的任何厚度變化。技術(shù)測量是使用過程控制監(jiān)控結(jié)構(gòu)進行的。使用光刻5倍步進器工具實現(xiàn)特征圖案化，該工具對在200毫米直徑晶圓上的多個實例重復(fù)的鏡頭進行成像。每個鏡頭都是單獨聚焦的，這進一步補償了旋鑄薄膜內(nèi)的任何厚度變化。技術(shù)測量是使用過程控制監(jiān)控結(jié)構(gòu)進行的。

模擬、測試和驗證

我們使用測試測量設(shè)置捕獲了功能性PlasticARM FlexIC的時序特性，并將測量結(jié)果與其寄存器傳輸級(RTL)仿真的結(jié)果進行比較，以驗證功能。 RTL仿真如圖3所示。它首先將RESET輸入設(shè)置為“0”，將PlasticARM重置為已知狀態(tài)。然后RESET設(shè)為'1'，處理器從重置狀態(tài)釋放，開始從ROM執(zhí)行代碼。首先，GPIO[0]輸出引腳被切換一次，然后執(zhí)行如圖2所示的三個測試。在第一個測試中，從ROM中讀取數(shù)據(jù)并將其添加到累加器中，并與期望值進行比較(見圖2a)。

如果值匹配，將兩個脈沖的短脈沖發(fā)送到GPIO[0]，如圖3a擴展數(shù)據(jù)所示。如果值不同，擴展數(shù)據(jù)圖3b中GPIO[0]上脈沖的周期和占空比會增加。在第二個測試中(圖2b)，將數(shù)據(jù)寫入RAM，讀回并進行比較。如果數(shù)據(jù)在從RAM中寫入或讀取時沒有損壞，則3個脈沖的短脈沖發(fā)送到GPIO[0]，如圖3a中的擴展數(shù)據(jù)所示。如果數(shù)據(jù)被破壞，GPIO[0]上脈沖的周期和占空比會像以前一樣增加。在最后的測試中(圖2c)，處理器進入一個無限循環(huán)并測量GPIO輸入引腳[1]上應(yīng)用'1'的時間。如果GPIO[1]保持在'1'而沒有任何故障，GPIO[0]從'0'變?yōu)?#39;1'。PlasticARM的時鐘頻率為20khz。由于它不使用任何計時器，軟件中選擇了一個值來表示GPIO[1]信號在20khz工作時保持在'1'約1秒。在擴展數(shù)據(jù)圖3a的模擬中，該值對應(yīng)于20,459個時鐘周期，在20 kHz時產(chǎn)生1.02295 s。 制造完成后，PlasticARM在晶圓探針臺上進行測試，同時仍連接到玻璃載體上。

數(shù)據(jù)可用性 在測試和驗證中生成波形的數(shù)據(jù)可根據(jù)要求從相應(yīng)的作者處獲得。 代碼可用性 三個驗證PlasticARM的測試程序的代碼可向相應(yīng)作者索取。