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  • 為什么關(guān)斷隔離性能在較低頻率時(shí)會(huì)下降?
    為什么關(guān)斷隔離性能在較低頻率時(shí)會(huì)下降?
  • 為什么關(guān)斷隔離性能在較低頻率時(shí)會(huì)下降?
  •   發(fā)布日期: 2018-09-25  瀏覽次數(shù): 1,577

    簡介

    ADG9xx CMOS寬帶開關(guān)主要設(shè)計(jì)用來滿足工業(yè)、科研和醫(yī)用(ISM)頻段 (≥900 MHz) 信號(hào)發(fā)射器件的要求。這些器件具有低插入損耗、高端口間隔離度、低失真和低功耗等特性,因而是要求低功耗且能夠處理發(fā)射功率 (最高達(dá)16 dBm) 的許多高頻應(yīng)用的理想解決方案。典型應(yīng)用包括高速濾波和數(shù)據(jù)路由。

     

    關(guān)于各器件 (ADG901,ADG902,ADG904,ADG904R,ADG918,ADG919,ADG936和ADG936R) 的完整特性,可以在數(shù)據(jù)手冊(cè)中找到,同時(shí)請(qǐng)參考本應(yīng)用筆記。本應(yīng)用筆記對(duì)有關(guān)這些器件的一些常見問題進(jìn)行了釋疑。ADG9xx器件的完整列表見表1。

    表1.ADG 9xx系列的主要規(guī)格特性

    “”

    吸收式(匹配):具有對(duì)地50Ω端接電阻的開關(guān);反射式:具有對(duì)地0Ω端接電阻的開關(guān)。

    常見問題

    電源電壓

    ADG9xx產(chǎn)品的電源電壓范圍是多少?

    AD G9xx是采用CMOS工藝制造的寬帶開關(guān),在最高至1 GHz范圍內(nèi)提供高隔離度和低插入損耗特性。這些器件采用1.65 V至2.75 V供電,且在該電壓范圍具有完整特性。VDD電源應(yīng)對(duì)地完全去禍。ADG9XX評(píng)估板的VDD線路上,使用了2個(gè)10μF表貼封裝去禍擔(dān)電容,其中一個(gè)靠近DUT放置,另外還將一個(gè)100 pF陶瓷電容。

    為發(fā)揮最佳性能,這些器件應(yīng)當(dāng)采用何種電源電壓供電?

    一般而言,VDD上的電源電壓越高,則性能越佳。從各數(shù)據(jù)手冊(cè)的特性圖可以看出,電源電壓越高,插入損耗性能也越強(qiáng)。另外,電源電壓越高,IP3和P1dB也略有改善。但無論VDD是1.65 V還是2.75 V ,隔離度性能的變化則不明顯。泄漏性能和IDD性能在VDD較低時(shí)略有改善。

    數(shù)據(jù)手冊(cè)的“絕對(duì)最大額定值”部分顯示VDD對(duì)GND為-0.5 V至+4 V,那么這些器件能采用3VVDD電源供電嗎?

    這是絕對(duì)最大額定值條件,長時(shí)間在絕對(duì)最大額定值條件下工作會(huì)影響器件的可靠性。在使用壽命期間,AD G9xx系列的保證工作電壓范圍為1.65 V至2.75 V,而且其完整特性是針對(duì)該電源電壓范圍而提供的。

    因此,這些器件可以采用2.75 V以上電源供電,但使用壽命無法得到保證。如上所述,電源電壓越高,器件的性能越佳,但泄漏和IDD這兩種主要特性則會(huì)略微變差。

    直流性能

    這些RF開關(guān)的電阻是多少?

    信號(hào)損耗本質(zhì)上是由導(dǎo)通條件下的開關(guān)電阻RON所引入的衰減決定;與源加負(fù)載電阻串聯(lián)的開關(guān)電阻RON,是在較低的工作頻率時(shí)測(cè)得的。

    “圖1.導(dǎo)通電阻與源電壓的關(guān)系”

    圖1.導(dǎo)通電阻與源電壓的關(guān)系

    ADG9xx系列采用N-溝道MOSFET結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)與標(biāo)準(zhǔn)開關(guān)的NMOS和PMOS FET并聯(lián)結(jié)構(gòu)相比,具有顯著的帶寬優(yōu)勢(shì)。帶寬改善的原因在于開關(guān)尺寸更小,以及不使用P-溝道MOSFET可以大幅減小寄生電容。ADG9xx的導(dǎo)通電阻變化圖與N-溝道MOSFET結(jié)構(gòu)的預(yù)期導(dǎo)通電阻曲線一致。圖1顯示了在這些器件上測(cè)得的典型導(dǎo)通電阻RON與輸入信號(hào)關(guān)系圖。

    高關(guān)斷隔離度是如何實(shí)現(xiàn)的?

    對(duì)寬帶應(yīng)用的開關(guān)設(shè)計(jì)人員而言,當(dāng)信號(hào)頻率提高至數(shù)百M(fèi)Hz以上時(shí),寄生電容往往會(huì)占據(jù)主導(dǎo)地位,因此要實(shí)現(xiàn)開關(guān)關(guān)斷狀態(tài)下的高隔離度和導(dǎo)通狀態(tài)下的低插入損耗并非易事。

    “圖2.基于晶體管的典型Tx/Rx開關(guān)”

    圖2.基于晶體管的典型Tx/Rx開關(guān)

    ADG 9xx系列跳脫了常見開關(guān)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的案臼,為關(guān)斷(及其相關(guān)的雜散信號(hào))添加了對(duì)地分流路徑,使得開關(guān)在高頻時(shí)具有更高的關(guān)斷隔離度。圖2顯示,F(xiàn)ET具有聯(lián)鎖指形布局,減小了輸入(RFx)與輸出(RFC)之間的寄生電容,從而提高了高頻時(shí)的隔離度并增強(qiáng)了串?dāng)_抑制能力。例如,當(dāng)MN1導(dǎo)通形成RF1的傳導(dǎo)路徑時(shí),MN2關(guān)斷且MN4導(dǎo)通,從而消除了RF2上的寄生電容。

    為什么關(guān)斷隔離性能在較低頻率時(shí)(< 1 MHz)會(huì)下降?

    在較低頻率時(shí),有兩種機(jī)制會(huì)產(chǎn)生重要影響:一種是寄生二極管可能呈正偏,另一種是分流NMOS器件在應(yīng)當(dāng)關(guān)斷時(shí)可能發(fā)生部分導(dǎo)通現(xiàn)象。

    這會(huì)影響頻率接近DC時(shí)的關(guān)斷隔離性能。這些機(jī)制將在“功率處理”部分的第二個(gè)問題中予以詳細(xì)說明,因?yàn)樗鼈儗?duì)低頻時(shí)的功率處理能力也有影響。

    功率處理

    什么是dBm?

    dBm是指功率相對(duì)于50Ω負(fù)載上1mW功率的dB數(shù)。因此對(duì)于正弦波信號(hào),0 dBm功率水平為: 224 mV均方根值 = 316 mV峰值 = 633 mV峰峰值。對(duì)于其它功率水平,dBm計(jì)算公式為:

    dBm=10 x log(P/1 mW)=10 x log[(V rms2)/(R x 1 mW)]

    其中:

    Log為以10為底的對(duì)數(shù)。

    R為50Ω.

    那么什么是7 dBm (5 mW)輸入信號(hào)呢?對(duì)于50Ω負(fù)載,7 dBm信號(hào)對(duì)應(yīng)于0.5 V均方根信號(hào),或1.4 V峰峰值(正弦波)。類似地,16 dBm對(duì)應(yīng)于1.4 V均方根或4V峰峰值。

    【V P-P=Vrmsx2x&radic;2】

    這些器件如何能在無直流偏置電壓的情況下處理7 d8m輸入功率、在0.5 V直流偏置電壓的情況下處理16 d8m輸入功率(如數(shù)據(jù)手冊(cè)所示)?

    對(duì)于7 dBm以上的輸入信號(hào),應(yīng)用0.5 V直流偏置電壓可以提高正弦波的最低電平,防止信號(hào)負(fù)的部分被削波或衰減。較小直流偏置電壓可以抵消較低頻率時(shí)(<100 MHz)導(dǎo)致功率處理能力降低的兩種效應(yīng)。

    “圖3.NMOS結(jié)構(gòu)”

    圖3.NMOS結(jié)構(gòu)

    NMOS的內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖3所示,由位于P型基板中的兩個(gè)N型材料區(qū)組成。因此,N區(qū)與P區(qū)之間形成寄生二極管。當(dāng)偏置OVDC的交流信號(hào)作用于晶體管的源極,并且Vcs大到足以接通晶體管((Vcs>Vr)時(shí),對(duì)于輸入波形的負(fù)半周的某一部分,寄生二極管可能呈正偏。如果輸入正弦波形低于約一0.6 V,便會(huì)發(fā)生上述情況,并且二極管開始接通,導(dǎo)致輸入信號(hào)被削波(壓縮),如圖4所示。該圖顯示了一個(gè)100 MHz, 10 dBm輸入信號(hào)及相應(yīng)的100 MHz輸出信號(hào)。請(qǐng)注意,輸出信號(hào)已被削去頂端了。

    “圖4.0V直流偏置電壓時(shí)的100

    圖4.0V直流偏置電壓時(shí)的100 MHz, 10 d8m輸人月俞出信號(hào)

    在低頻時(shí),輸入信號(hào)長時(shí)間低于-0.6 V電平,這對(duì)1 dB壓縮點(diǎn)(P1dB)有較大影響。這就解釋了導(dǎo)致較低頻率時(shí)功率處理能力降低的第一種機(jī)制。

    在較低頻率時(shí),如果分流NMOS器件在應(yīng)當(dāng)關(guān)斷時(shí)卻部分接通,則器件能處理的功率也會(huì)較低。這與上文所述寄生二極管部分接通的機(jī)制相似。這種情況下,當(dāng)VcsVr的情況,從而部分接通分流器件。這樣就會(huì)將一部分能量分流至地,從而壓縮輸入波形。

    在輸入信號(hào)大于7 dBm (或5 mW , 50 Ω電阻上存在1.4 V峰峰值) 的情況下使用開關(guān)時(shí),對(duì)RF輸入信號(hào)施加一個(gè)較小直流偏置電壓(約0.5 V)便可克服上述兩種機(jī)制的影響。其原理是通過提高正弦波輸入信號(hào)的最低電平,確保寄生二極管持續(xù)呈反偏,并且在輸入信號(hào)的整個(gè)周期內(nèi),分流晶體管的Vcs永遠(yuǎn)不會(huì)大于Vr,因而保持關(guān)斷狀態(tài)。圖5顯示了0.5V直流偏置電壓時(shí)100 MHz, 10 dBm輸入功率(50 Ω電阻上存在約2V峰峰值)的輸入與輸出信號(hào)圖。圖中清楚顯示出在100 MHz時(shí)不再發(fā)生削波或壓縮。

    “圖5.

    圖5. 0.5V直流偏置電壓的100MHz、10dBm輸入/輸出信號(hào)

    如何對(duì)RF輸入施加直流偏置電壓?

    為將通過輸入端上的端接電阻泄漏的電流降至最低,最好將偏置電壓施加在輸出(RFC)端上。這是最佳做法,尤其是針對(duì)低功耗便攜式應(yīng)用,但如果下游電路不能處理這種直流偏置電壓,則可能需要在RF輸出端上應(yīng)用隔直電容。

    可以使用高于0.5V的直流偏置電壓嗎?

    圖1顯示導(dǎo)通電阻隨著輸入信號(hào)增大而呈指數(shù)式增大。它還顯示高于0.5 V的直流信號(hào)會(huì)增加開關(guān)上的損耗,而且用戶希望導(dǎo)通電阻盡可能小。與標(biāo)準(zhǔn)CMOS開關(guān)一樣,作用于開關(guān)輸入的信號(hào)絕不能超過VDD電源電壓。


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