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  • 實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系
    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系
  • 實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系
  •   發(fā)布日期: 2019-11-25  瀏覽次數(shù): 2,320

    目標(biāo)

     

    本實(shí)驗(yàn)活動(dòng)的目的是測(cè)量反向偏置PN結(jié)的容值與電壓的關(guān)系。

    背景知識(shí)

    PN結(jié)電容

    增加PN結(jié)上的反向偏置電壓VJ會(huì)導(dǎo)致連接處電荷的重新分配,形成耗盡區(qū)或耗盡層(圖1中的W)。這個(gè)耗盡層充當(dāng)電容的兩個(gè)導(dǎo)電板之間的絕緣體。這個(gè)W層的厚度與施加的電場(chǎng)和摻雜濃度呈函數(shù)關(guān)系。PN結(jié)電容分為勢(shì)壘電容和擴(kuò)散電容兩部分。在反向偏置條件下,不會(huì)發(fā)生自由載流子注入;因此,擴(kuò)散電容等于零。對(duì)于反向和小于二極管開(kāi)啟電壓(硅芯片為0.6 V)的正偏置電壓,勢(shì)壘電容是主要的電容來(lái)源。在實(shí)際應(yīng)用中,根據(jù)結(jié)面積和摻雜濃度的不同,勢(shì)壘電容可以小至零點(diǎn)幾pF,也可以達(dá)到幾百pF。結(jié)電容與施加的偏置電壓之間的依賴關(guān)系被稱為結(jié)的電容-電壓(CV)特性。在本次實(shí)驗(yàn)中,您將測(cè)量各個(gè)PN結(jié)(二極管)此特性的值,并繪制數(shù)值圖。

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖1.PN結(jié)耗盡區(qū)。

    材料

    ?ADALM2000 主動(dòng)學(xué)習(xí)模塊

    ?無(wú)焊面包板

    ?一個(gè)10 kΩ電阻

    ?一個(gè)39 pF電容

    ?一個(gè)1N4001二極管

    ?一個(gè)1N3064二極管

    ?一個(gè)1N914二極管

    ?紅色、黃色和綠色LED

    ?一個(gè)2N3904 NPN晶體管

    ?一個(gè)2N3906 PNP晶體

    步驟1

    在無(wú)焊面包板上,按照?qǐng)D2和圖3所示構(gòu)建測(cè)試設(shè)置。第一步是利用在AWG輸出和示波器輸入之間連接的已知電容C1來(lái)測(cè)量未知電容Cm。兩個(gè)示波器負(fù)輸入1–和2–都接地。示波器通道1+輸入與AWG1輸出W1一起連接到面包板上的同一行。將示波器通道2+插入面包板,且保證與插入的AWG輸出間隔8到10行,將與示波器通道2+相鄰偏向AWG1的那一行接地,保證AWG1和示波器通道2之間任何不必要的雜散耦合最小。由于沒(méi)有屏蔽飛線,盡量讓W(xué)1和1+兩條連接線遠(yuǎn)離2+連接線。

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖2.用于測(cè)量Cm的步驟1設(shè)置

    硬件設(shè)置

    使用Scopy軟件中的網(wǎng)絡(luò)分析儀工具獲取增益(衰減)與頻率(5 kHz至10 MHz)的關(guān)系圖。示波器通道1為濾波器輸入,示波器通道2為濾波器輸出。將AWG偏置設(shè)置為1 V,幅度設(shè)置為200 mV。測(cè)量一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)際電容時(shí),偏置值并不重要,但在后續(xù)步驟中測(cè)量二極管時(shí),偏置值將會(huì)用作反向偏置電壓。縱坐標(biāo)范圍設(shè)置為+1 dB(起點(diǎn))至–50 dB。運(yùn)行單次掃描,然后將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到.csv文件。您會(huì)發(fā)現(xiàn)存在高通特性,即在極低頻率下具有高衰減,而在這些頻率下,相比R1,電容的阻抗非常大。在頻率掃描的高頻區(qū)域,應(yīng)該存在一個(gè)相對(duì)較為平坦的區(qū)域,此時(shí),C1、Cm容性分壓器的阻抗要遠(yuǎn)低于R1。

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖3.用于測(cè)量Cm的步驟1設(shè)置

    步驟1

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖4.Scopy屏幕截圖。

    我們選擇讓C1遠(yuǎn)大于Cstray,這樣可以在計(jì)算中忽略Cstray,但是計(jì)算得出的值仍與未知的Cm相近。

    在電子表格程序中打開(kāi)保存的數(shù)據(jù)文件,滾動(dòng)至接近高頻(》1 MHz)數(shù)據(jù)的末尾部分,其衰減電平基本是平坦的。記錄幅度值為GHF1(單位:dB)。在已知GHF1和C1的情況下,我們可以使用以下公式計(jì)算Cm。記下Cm值,在下一步測(cè)量各種二極管PN結(jié)的電容時(shí),我們需要用到這個(gè)值。

    步驟2

    現(xiàn)在,我們將在各種反向偏置條件下,測(cè)量ADALM2000模擬套件中各種二極管的電容。在無(wú)焊面包板上,按照?qǐng)D4和圖5所示構(gòu)建測(cè)試設(shè)置。只需要使用D1(1N4001)替換C1。插入二極管,確保極性正確,這樣AWG1中的正偏置將使二極管反向偏置。

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖5.用于測(cè)量二極管電容的步驟2設(shè)置。

    硬件設(shè)置

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖6.用于測(cè)量二極管電容的步驟2設(shè)置。

    使用Scopy軟件中的網(wǎng)絡(luò)分析儀工具獲取表1中各AWG 1 DC偏置值時(shí)增益(衰減)與頻率(5 kHz至10 MHz)的關(guān)系圖。將每次掃描的數(shù)據(jù)導(dǎo)出到不同的.csv文件。

    程序步驟

    在表1剩余的部分,填入各偏置電壓值的GHF值,然后使用Cm值和步驟1中的公式來(lái)計(jì)算Cdiode的值。

    表1.電容與電壓數(shù)據(jù)

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    實(shí)驗(yàn):PN結(jié)電容與電壓的關(guān)系

    圖7.偏置為0 V時(shí)的Scopy屏幕截圖。

    使用ADALM2000套件中的1N3064二極管替換1N4001二極管,然后重復(fù)對(duì)第一個(gè)二極管執(zhí)行的掃描步驟。將測(cè)量數(shù)據(jù)和計(jì)算得出的Cdiode值填入另一個(gè)表。與1N4001二極管的值相比,1N3064的值有何不同?您應(yīng)該附上您測(cè)量的各二極管的電容與反向偏置電壓圖表。

    然后,使用ADALM2000套件中的一個(gè)1N914二極管,替換1N3064二極管。然后,重復(fù)您剛對(duì)其他二極管執(zhí)行的相同掃描步驟。將測(cè)量數(shù)據(jù)和計(jì)算得出的Cdiode值填入另一個(gè)表。與1N4001和1N3064二極管的值相比,1N914的值有何不同?

    您測(cè)量的1N914二極管的電容應(yīng)該遠(yuǎn)小于其他兩個(gè)二極管的電容。該值可能非常小,幾乎與Cstray的值相當(dāng)。

    額外加分的測(cè)量

    發(fā)光二極管或LED也是PN結(jié)。它們是由硅以外的材料制成的,所以它們的導(dǎo)通電壓與普通二極管有很大不同。但是,它們?nèi)匀痪哂泻谋M層和電容。為了獲得額外加分,請(qǐng)和測(cè)量普通二極管一樣,測(cè)量ADALM2000模擬器套件中的紅色、黃色和綠色LED。在測(cè)試設(shè)置中插入LED,確保極性正確,以便實(shí)現(xiàn)反向偏置。如果操作有誤,LED有時(shí)可能會(huì)亮起。

    問(wèn)題

    使用步驟1中的公式、C1的值以及圖4中的圖,計(jì)算示波器輸入電容Cm。

    您可以在學(xué)子專區(qū)博客上找到問(wèn)題答案。

    作者簡(jiǎn)介

    Doug Mercer于1977年畢業(yè)于倫斯勒理工學(xué)院(RPI),獲電子工程學(xué)士學(xué)位。自1977年加入ADI公司以來(lái),他直接或間接貢獻(xiàn)了30多款數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品,并擁有13項(xiàng)專利。他于1995年被任命為ADI研究員。2009年,他從全職工作轉(zhuǎn)型,并繼續(xù)以名譽(yù)研究員身份擔(dān)任ADI顧問(wèn),為“主動(dòng)學(xué)習(xí)計(jì)劃”撰稿。2016年,他被任命為RPI ECSE系的駐校工程師。

    作者簡(jiǎn)介

    Antoniu Miclaus現(xiàn)為ADI公司的系統(tǒng)應(yīng)用工程師,從事ADI教學(xué)項(xiàng)目工作,同時(shí)為實(shí)驗(yàn)室電路®、QA自動(dòng)化和流程管理開(kāi)發(fā)嵌入式軟件。他于2017年2月在羅馬尼亞克盧日-納波卡加盟ADI公司。他目前是貝碧思鮑耶大學(xué)軟件工程碩士項(xiàng)目的理學(xué)碩士生,擁有克盧日-納波卡科技大學(xué)電子與電信工程學(xué)士學(xué)位。


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